Programma preliminare

Ultimo aggiornamento: 07.03.2007
Domenica, 22 Aprile
15:30
Registrazione
17:00
G. Paolucci
Introduzione alle applicazioni di Luce di Sincrotrone allo studio dei materiali
19:00
Cena di benvenuto
 
Lunedi, 23 Aprile
9:00
R. Visintini
Principi generali e caratteristiche della Luce di Sincrotrone
10:00
E. Busetto
Ottiche per raggi X
11:00
Coffee break
11:30
Andrea Lausi
Rivelatori per raggi X
12:30
Pranzo
14:30
Trasferimento in pulmann a ELETTRA
15:00
Visita a Elettra
19:00
Trasferimento in pulmann alla cena sociale
 
Martedi, 24 Aprile
9:00
S. Mobilio
Introduzione alla Spettroscopia di Assorbimento di Raggi X
10:00
F. Boscherini
Applicazioni ai film sottili ed ai sistemi nanostrutturati
11:00
Coffee break
11:30
P. Fornasini
Metodi di analisi dei dati
12:30
Pranzo
Computer Session
14:30
C. Meneghini
Analisi dei dati standard
16:15
Coffee break
16:30

18:15
F. D'Acapito
Programmi di analisi avanzata (FEFF/GNXAS)
 
Mercoledi, 25 Aprile
8:30
P. Scardi
Diffrazione da materiali nanocristallini e fortemente deformati: metodi tradizionali e di modellazione dello spettro intero
10:00
A. Cervellino
Metodo di Debye per la modellazione di nanoparticelle
11:00
Coffee break
11:30
M. Leoni
Diffrazione per lo studio di rivestimenti e strati sottili
12:30
Pranzo
Computer Session
14:30
P. Scardi
Analisi del profilo di diffrazione: metodi tradizionali
16:00
Coffee break
16:30

18:30
A. Cervellino, M. Leoni
Analisi del profilo di diffrazione: metodi avanzati
 
Giovedi, 26 Aprile
9:00
A. Benedetti
Introduzione alla diffusione a basso angolo
9:45
P. Riello
Primi elementi di analisi dei dati con relativi esempi applicativi
10:45
Coffee break
11:15
S. Bernstorff
GISAXS in materials science
12:15
H. Amenitsch
SAXS in solution and under extreme conditions
13:15
Pranzo
Computer Session
14:15

17:15
S. Bernstorff, M. Rappolt, B. Sartori
Analisi dei dati SAXS e interpretazione